一、日本 ARK-T UM365-HM 紫外輻照照度檢測儀 產品基礎信息
| 項目 | 詳情 |
|---|---|
| 品牌型號 | ARK-T UM365-HM 分體式365nm紫外輻照檢測儀 |
| 檢測波段 | 365nm專用窄帶光學濾波，適配UV固化、LCD曝光主流紫外光源 |
| 設備結構 | 分體成套：手持充電數顯主機 + 加長柔性屏蔽線纜紫外傳感探頭 |
| 測量輸出 | 實時瞬時照度、自動累計輻照劑量雙參數同步顯示，支持峰值鎖定 |
| 核心應用 | LCD液晶產線UV曝光光源點檢、UV固化產線巡檢、光催化實驗室365nm紫外定量計量 |
二、核心規格參數
| 參數項 | 標準規格 |
|---|---|
| 光學系統 | 365nm窄帶濾光感光模組，過濾可見光與無關紫外雜波，測量貼合實際固化能量 |
| 探頭線纜 | 小型平面傳感探頭+加長柔性屏蔽線纜，可伸入密閉燈箱、狹小縫隙測量 |
| 顯示功能 | 雙單位μW/cm2/mW/cm2切換；瞬時照度、累計輻照劑量同步顯示；MAX峰值鎖定 |
| 供電模式 | 內置可充電鋰電池，配套充電底座，無塵車間無外接電源移動巡檢 |
| 抗干擾設計 | 全屏蔽傳輸線纜，自動化產線電機、UV電源電磁干擾下讀數無漂移跳變 |
| 運行能力 | 支持產線每日多工位UV光源點檢、實驗室間歇式光催化定量標定兩用 |
| 拓展配套 | 加長延長屏蔽線纜、探頭遮光校準帽、上位機檢測數據導出軟件、防靜電便攜收納包可選加裝 |
三、產品核心性能優勢
1. 365nm專用窄帶濾光光學系統，測量數值貼合UV膠實際固化有效能量
區別通用寬波段紫外照度計，本機搭載365nm專屬窄帶濾波片，屏蔽可見光、254/313nm雜散紫外干擾，僅采集UV固化、LCD曝光起交聯作用的365nm波段能量，工藝管控數值精準，避免因計量偏差出現固化不良、面板報廢。
2. 分體加長柔性線纜探頭，密閉UV燈箱無需停機開蓋即可內部測量
小型平面傳感探頭搭配加長柔性屏蔽線纜，探頭伸入UV曝光爐、固化燈箱、光催化密閉反應腔體，手持數顯主機留在設備外側安全區域，無需中斷產線、拆開設備外殼，大幅提升產線日常點檢效率。
3. 瞬時照度+累計輻照劑量雙同步顯示，滿足精密工藝定量管控
屏幕同時實時展示當前紫外瞬時照度，設備自動計時累計總輻照劑量；可直接用于LCD邊框曝光時長、UV膠固化劑量標準化管控，批量實驗、多工位產線可精準對比能量差異，定位光源衰減故障。
4. 一鍵峰值鎖定MAX功能，快速掃描定位UV燈發光強區域
移動探頭掃描UV線性燈、點光源發光面時，按下MAX鍵自動鎖定全程測得最大照度值，快速判斷光源安裝偏移、局部燈珠老化、燈管兩端輻照不均等工藝缺陷。
5. 充電鋰電輕量化手持機身，適配無塵車間無電源巡回巡檢
整機小巧便攜，內置循環充電鋰電池，配套專用充電底座，可裝入防靜電潔凈收納包帶入LCD無塵車間，多臺層流UV曝光工位連續點檢，無需就近布設市電插座。
6. 全屏蔽傳輸線纜，自動化產線強電磁環境讀數穩定無跳變漂移
探頭至主機傳輸線纜采用多層屏蔽結構，LCD流水線伺服電機、UV驅動電源高頻電磁干擾環境下，照度數值不會頻繁跳變，全天多時段、多工位檢測數據具備橫向對比參考價值。
7. 兼容ARK-T全系UV光源，兼顧產線質檢與科研實驗計量
可配套SF-IR54 LCD周邊曝光UV LED光源、AT250S 250W紫外標準光源使用，既滿足液晶制造產線每日光源衰減點檢，也適配高校光催化臭氧合成實驗365nm輻照精準定量計量，一臺設備覆蓋工業質檢與科研實驗室兩類場景。
四、日本 ARK-T UM365-HM 紫外輻照照度檢測儀 適用行業與應用場景
LCD液晶模組自動化產線：SF-IR54系列周邊曝光UV LED燈每日照度點檢、燈珠老化衰減排查
3C電子UV固化車間：手機蓋板、光學膠、邊框密封UV固化燈輻照強度定期校驗
高校臭氧/光催化材料實驗室：365nm紫外反應光源精準定量輻照劑量計量對照實驗
光學光源計量工位：高壓汞燈、UV LED光源出廠校準、長期老化衰減跟蹤檢測
微型光刻精密研發：小型365nm曝光設備發光面均勻度多點掃描測量
油墨、高分子UV樹脂研發實驗室：不同配方固化所需紫外能量對照定量測試
