一、日本 C-MAX QEC Cubic 多角度試樣觀察臺 產品基礎信息
| 項目 | 詳情 |
|---|---|
| 品牌型號 | C-MAX QEC Cubic 多角度試樣觀察臺 |
| 產品類型 | 搭配金相/體視顯微鏡的多維精密試樣調節工裝 |
| 核心用途 | 傾斜、翻轉試樣，觀測側壁、斷口、焊縫側面等區域，免去鑲嵌制樣 |
| 典型應用 | 半導體焊點、電鍍層、電解加工件、材料斷面顯微檢測 |
二、核心規格參數
| 參數項 | 規格說明 |
|---|---|
| 運動軸 | XY平移、水平回轉、俯仰傾斜多軸微調，各軸帶鎖緊機構 |
| 夾持形式 | 標配機械夾爪，可選真空吸盤、異形專用夾具 |
| 安裝方式 | 直接放置于原有顯微鏡載物臺，無需改造顯微鏡 |
| 可選拓展 | 角度刻度盤、真空吸附、定制夾具、限位組件 |
三、產品核心特點
1.多角度觀測，省去復雜制樣流程
直接傾斜工件觀察側壁、斷面，無需樹脂鑲嵌、剖切打磨，大幅縮短抽檢耗時，適配產線快速質檢。
2.精密微調適配高倍顯微成像
微調旋鈕進給細膩，鎖緊牢靠，拍照錄像時試樣不會偏移，保障微觀圖像質量。
3.適配多種試樣
可更換夾具夾持薄片、圓柱、異形小件，適配電子、陶瓷、醫療各類零部件檢測。
4.改造便捷
兼容現有顯微鏡，低成本拓展多角度觀測能力。
四、適用行業場景
半導體電子：焊點側面潤濕、裂紋檢測；
表面處理：電鍍、電解加工邊緣微觀檢視；
材料研發：斷裂斷面金相分析。
五、日本 C-MAX QEC Cubic 多角度試樣觀察臺 安裝使用注意事項
易碎件控制夾持力度；高倍率下調速輕柔，防止試樣磕碰物鏡；定期清潔傳動結構；
閑置時加蓋防塵罩保護精密絲桿。
